12月9日，應(yīng)中國科學(xué)院合肥物質(zhì)科學(xué)研究院強(qiáng)磁場中心研究員盛志高邀請，美國加州大學(xué)河濱分校教授崔永濤訪問強(qiáng)磁場科學(xué)中心，并作了題為Visualizing Emergent Interface Electronic States in Quantum Materials的學(xué)術(shù)報告。

　　低維電子體系（比如薄膜、材料界面等）為發(fā)現(xiàn)新型電子態(tài)提供了有力的研究基礎(chǔ)?？臻g分辨電子探頭能在介觀尺度上直接探測這些態(tài)，彌補(bǔ)了傳統(tǒng)輸運技術(shù)的不足。在本次報告中，崔永濤介紹了能夠在納米尺度上表征材料電容電導(dǎo)的掃描探針技術(shù)——微波阻抗顯微鏡（MIM）。他詳盡介紹了微波阻抗顯微鏡在二維電子態(tài)上兩項代表性工作，一項是通過MIM探究了Nd2IrO7的籌壁，另一項是通過MIM探究了一些二維拓?fù)潴w系的邊緣電導(dǎo)。很多師生對這一新型探測手段非常感興趣，并希望能夠進(jìn)一步討論尋找合作機(jī)會。

　　崔永濤于2005年畢業(yè)于北京大學(xué)，于2011年在美國康奈爾大學(xué)獲得博士學(xué)位，然后在斯坦福大學(xué)做博士后。2016年夏季到美國加州大學(xué)河濱分校擔(dān)任助理教授。